A burn-in testing system for evaluating a circuit under test, the system including a burn-in board having a plurality of receptacles, at least one of which being sized to receive the circuit under test, test interface circuitry supported by the board and coupled to the receptacles, the test interface circuitry including a transmitter and receiver; power conductors supported by the board, coupled to the receptacles and configured to be connected to a power supply to power the circuit under test during burn-in testing, control and data signal conductors, a burn-in oven having a compartment selectively receiving the burn-in board and being configured to apply heat within the compartment, and an interrogator unit supported by the burn-in oven, the interrogator unit being configured to send commands to the test interface circuitry to exercise the circuit under test optically or via radio communication and to receive responses to the commands optically or via radio communication. A method for testing an integrated circuit having operational circuitry formed thereon, optically and via radio frequency.

Ein prüfensystem der Einbrennung für das Auswerten eines Stromkreises unter Test, das System einschließlich ein Einbrennungbrett, das eine Mehrzahl der Aufnahmewannen, eine mindestens hat, von der sortierend, um den Stromkreis unter Test zu empfangen, Testschnittstelle Schaltkreis durch das Brett und zu den Aufnahmewannen, zum Testschnittstelle Schaltkreis einschließlich einen Übermittler und zum Empfänger verbunden sich stützte; treiben Sie die Leiter an, die vom Brett gestützt werden, zu den Aufnahmewannen verbunden sind und, an ein Spg.Versorgungsteil angeschlossen zu werden zusammengebaut sind, um den Stromkreis unter Test während Einbrennungprüfung, -steuer- und Daten-signalder leiter, eines Einbrennungofens haben ein Fach das, Einbrennungbrett selektiv zu empfangen und zusammengebaut zu werden, um Hitze innerhalb des Faches anzuwenden und einer Fragestellermaßeinheit anzutreiben gestützt wird durch den Einbrennungofen, die Fragestellermaßeinheit, die zusammengebaut wird, um Befehle zum Testschnittstelle Schaltkreis zu schicken, den Stromkreis unter Test oder über Funkverbindung und Antworten zu den Befehlen optisch zu empfangen oder über Funkverbindung optisch auszuüben. Eine Methode für die Prüfung einer integrierten Schaltung, die funktionsfähigen Schaltkreis darauf, optisch sich bilden läßt und über Hochfrequenz.