An invention is disclosed for setup and hold time characterization in an
integrated circuit cell. A setup time is obtained for a first constraint
pin. A setup time is also calculated for a test point defined in the
integrated circuit cell using the setup time for the first constraint pin
and a first propagation delay from the first constraint pin to the test
point. A setup time for a second constraint pin is determined based on the
setup time for the test point and a second propagation delay from the
second constraint pin to the test point. In addition to the setup time, a
hold time can be obtained for the first constraint pin, and a hold time
for the test point can be calculated using the hold time for the first
constraint pin and the first propagation delay. Further, a hold time for
the second constraint pin can be determined based on the hold time for the
test point and the second propagation delay.
Une invention est révélée pour la caractérisation d'installation et de temps de prise dans une cellule de circuit intégré. Un temps d'installation est obtenu pour une première goupille de contrainte. Un temps d'installation est également calculé pour un point test de mesure défini dans la cellule de circuit intégré en utilisant le moment d'installation pour la première goupille de contrainte et une première propagation retardent de la première goupille de contrainte au point test de mesure. Un temps d'installation pour une deuxième goupille de contrainte est déterminé a basé le moment d'installation pour le point test de mesure et une deuxième propagation retardent de la deuxième goupille de contrainte au point test de mesure. En plus du temps d'installation, un temps de prise peut être obtenu pour la première goupille de contrainte, et un temps de prise pour le point test de mesure peut être calculé en utilisant le moment de prise pour la première goupille de contrainte et la première propagation retardent. De plus, un temps de prise pour la deuxième goupille de contrainte peut être déterminé a basé le moment de prise pour le point test de mesure et la deuxième propagation retardent.
