An electronics testing circuit comprises a tested circuit (12) which includes testing cells (30,32) and a first transceiver (54) coupled to the cells (30,32). The first transceiver (54) is operable to transmit signals received from the testing cells (30,32) and to receive signals transmitted for the cells (30,32). A second transceiver (26) is operable to receive signals from the first transceiver (54) and send signals to the first transceiver (54). A testing device (18) is coupled to the second transceiver (26) and is operable to send signals to it for the testing cells (30,32) and receive signals from the testing cells (30,32).

Un circuit d'essai de l'électronique comporte un circuit examiné (12) qui inclut les cellules d'essai (30.32) et un premier émetteur récepteur (54) couplé aux cellules (30.32). Le premier émetteur récepteur (54) est fonctionnel pour transmettre des signaux reçus des cellules d'essai (30.32) et pour recevoir des signaux transmis pour les cellules (30.32). Un deuxième émetteur récepteur (26) est fonctionnel pour recevoir des signaux du premier émetteur récepteur (54) et pour envoyer des signaux au premier émetteur récepteur (54). Un dispositif d'essai (18) est couplé au deuxième émetteur récepteur (26) et est fonctionnel pour lui envoyer des signaux pour les cellules d'essai (30.32) et pour recevoir des signaux des cellules d'essai (30.32).