Flip-flops (FFs) to replace with scan FFs are selected for an integrated circuit designed at the gate level in order that the integrated circuit has an n-fold line-up structure. All FFs in an integrated circuit are temporarily selected as FFs to replace with scan FFs Each FF to replace with a scan FF is temporarily selected as a FF to replace with a non-scan flip-flop, and the structure of the integrated circuit is checked if it has an n-folded line-up structure and if so, then the FF is selected as a FF to replace with a non-scan flip-flop. For an integrated circuit designed at the gate level, flip-flops to replace with scan flip-flops are selected in order that the integrated circuit has an n-fold line-up structure, without recognizing load/hold FFs as self-loop structure FF. Thereafter, FFs to replace with scan FFs are selected in such a way as to facilitate testing on load/hold FFs. The present invention guarantees high fault efficiency in identifying FFs to replace with scan FFs and achieves a higher compaction rate than conventional technology.

Os flip-flops (FFs) a substituir com a varredura FFs são selecionados para um circuito integrado projetado no nível da porta a fim de que o circuito integrado tenha n-dobre a estrutura da formação. Todo o FFs em um circuito integrado está selecionado temporariamente enquanto FFs para substituir com a varredura FFs cada FF a substituir com uma varredura FF está selecionado temporariamente como um FF para substituir com non-faz a varredura do flip-flop, e a estrutura do circuito integrado é verificada se tiver uma estrutura n-dobrada da formação e se assim, a seguir o FF é selecionado como um FF para substituir com non-faz a varredura do flip-flop. Para um circuito integrado projetou no nível da porta, flip-flops substituir com os flip-flops da varredura são selecionados a fim de que o circuito integrado tivesse n-dobrasse a estrutura da formação, sem reconhecer load/hold FFs como a estrutura FF do self-laço. Depois disso, FFs a substituir com a varredura FFs é selecionado em tal maneira a respeito do facilita testar em load/hold FFs. A invenção atual garante a eficiência elevada da falha em identificar FFs para substituir com a varredura FFs e consegue uma taxa mais elevada do compaction do que a tecnologia convencional.