The present invention provides a method and apparatus that improves Built-In-Self-Test (BIST) flexibility without requiring the complexity of a compilable BIST circuit. Additionally, the present invention provides the ability to use a single BIST to test multiple memory arrays of different sizes. The preferred embodiment of the present invention provides a compilable address magnitude comparator to facilitate BIST testing of different size memory arrays without requiring customization of the BIST controller. The preferred embodiment compilable address magnitude comparator is compiled within the compilable memory arrays of the ASIC to allow a single BIST controller to test multiple sizes of memory arrays without requiring that the BIST controller itself be compilable. In the preferred embodiment, the compilable magnitude address comparator overrides the self-test signal from the BIST when the BIST attempts to test addresses that do not exist in the memory. As such, the BIST is prevented from writing to addresses that do not exist, and does not receive error signals from those addresses. Thus, the BIST controller is able to test memory arrays without regard for their particular size. Furthermore, a single BIST controller can then be used to test multiple memory arrays of different sizes in the ASIC, again reducing device complexity.

Присытствыющий вымысел обеспечивает метод и прибор улучшает гибкость Строить-В-Собственн-Ispytani4 (BIST) без требовать сложности compilable цепи BIST. Дополнительно, присытствыющий вымысел обеспечивает способность использовать одиночное BIST для того чтобы испытать множественные блоки памяти по-разному размеров. Предпочитаемое воплощение присытствыющего вымысла обеспечивает compilable компаратор величины адреса для того чтобы облегчить испытывать BIST по-разному блоков памяти размера без требовать customization регулятора BIST. Предпочитаемый компаратор величины адреса воплощения compilable составлен в пределах compilable блоков памяти ASIC для того чтобы позволить одиночный регулятор BIST испытать множественные размеры блоков памяти без требовать что регулятор сам BIST compilable. В предпочитаемом воплощении, compilable компаратор адреса величины отвергает self-test сигнал от BIST когда попытки BIST испытать адресы которые не существуют в памяти. Как такие, BIST предотвращено от писания к адресам которые не существуют, и не получает сигналы ошибок от тех адресов. Таким образом, регулятор BIST может испытать блоки памяти без отношения для их определенного размера. Furthermore, одиночный регулятор BIST можно после этого использовать для того чтобы испытать множественные блоки памяти по-разному размеров в ASIC, снова уменьшая сложность приспособления.