An array of transistor circuits is fabricated so that each transistor circuit in an array of transistor circuits has a switching threshold determined by intrinsic switching thresholds of at least one sensing transistor in a corresponding transistor circuit. The sensing transistors in a set of transistor circuits of the array can be fabricated to have common physical dimensions even though corresponding intrinsic switching thresholds of the transistor circuits can vary. Switching thresholds of the transistor circuits can vary based on an applied well bias voltage. Alternatively, the switching threshold of each transistor circuit can be set to a common value and a tapped delay line can be coupled to the transistor circuits. Consequently, an A/D converter device can be fabricated by coupling an encoder, and a calibration circuit if necessary, to the output of the array of transistor circuits.

Un allineamento dei circuiti del transistore è fabbricato in modo che ogni circuito del transistore in un allineamento dei circuiti del transistore abbia una soglia di commutazione determinata dalle soglie intrinseche di commutazione almeno di un transistore di rilevamento in un circuito corrispondente del transistore. I transistori di rilevamento in un insieme dei circuiti del transistore dell'allineamento possono essere fabbricati per avere dimensioni fisiche comuni anche se le soglie intrinseche corrispondenti di commutazione dei circuiti del transistore possono variare. Le soglie di commutazione dei circuiti del transistore possono variare basato su una tensione di polarizzazione buona applicata. Alternativamente, la soglia di commutazione di ogni circuito del transistore può essere regolata ad un valore comune e colpito fa ritardare la linea può essere accoppiato ai circuiti del transistore. Di conseguenza, un dispositivo ANALOGICO-DIGITALE del convertitore può essere fabbricato dalla coppia dadel codificatore e da un circuito di calibratura se necessario, all'uscita dell'allineamento dei circuiti del transistore.