The present invention provides for an apparatus and method for use in a system with an x-ray source to produce a pencil beam of x-rays to scan an object and a first detector providing a value representative of the intensity of the x-rays scattered from the object to produce a scattered image having a second detector disposed opposite the first detector to provide a value representative of the intensity of the x-rays passing directly from the x-ray source to the second detector; a processor coupled to the system to receive information specifying a position of the pencil beam of x-rays, the processor also coupled to second detector to produce a shadow image formed of pixels indicating the intensity value measured by the second detector for a plurality of positions of the pencil beam of x-rays; and combining the scattered and shadow image to produce a composite image.

Η παρούσα εφεύρεση προβλέπει συσκευές και μια μέθοδο για τη χρήση σε ένα σύστημα με μια των ακτίνων X πηγή για να παραγάγει μια ακτίνα μολυβιών των ακτίνων X για να ανιχνεύσει ένα αντικείμενο και έναν πρώτο ανιχνευτή που παρέχουν μια αξία αντιπροσωπευτική της έντασης των ακτίνων X που διασκορπίζονται από το αντικείμενο για να παραγάγουν μια διεσπαρμένη εικόνα που έχει έναν δεύτερο ανιχνευτή διατεθειμένο απέναντι από τον πρώτο ανιχνευτή για να παρέχει μια αξία αντιπροσωπευτική της έντασης των ακτίνων X που περνούν άμεσα από την των ακτίνων X πηγή στο δεύτερο ανιχνευτή ένας επεξεργαστής σύνδεσε με το σύστημα για να λάβει τις πληροφορίες που διευκρινίζουν μια θέση της ακτίνας μολυβιών των ακτίνων X, ο επεξεργαστής που συνδέθηκε επίσης με το δεύτερο ανιχνευτή για να παραγάγει μια εικόνα σκιών που διαμορφώθηκε των εικονοκυττάρων που δείχνουν την αξία έντασης που μετρήθηκε από το δεύτερο ανιχνευτή για μια πολλαπλότητα των θέσεων της ακτίνας μολυβιών των ακτίνων X και συνδυάζοντας τη διεσπαρμένη και εικόνα σκιών για να παραγάγει μια σύνθετη εικόνα.