Methods and apparatus for managing circuit tests. In a first embodiment of
the invention, a number of electrical characteristics of a number of
electrical components which exist in a circuit are identified, and the
number of electrical components are then grouped in response to the number
of electrical characteristics. Thereafter, and for each group of
electrical components, a circuit test which is common to the electrical
components of the group is established. When the execution of a test
results in a false fail, the test is debugged, and the debugged test is
then associated with each other component in its group. Much of a
programmer's debug effort is therefore "proactive" rather than "reactive".
Preferably, a test history log is maintained for each component group so
that previously abandoned test solutions are not repeated as tests are
debugged. In a second embodiment of the invention, a number of test
parameters of a number of circuit tests created for a number of electrical
components which exist in a circuit are identified. Circuit components are
then grouped in response to the test parameters rather than in response to
electrical characteristics (though some of the test parameters may
actually be electrical characteristics). The methods are preferably
implemented in software. The methods and apparatus disclosed not only
shorten the time required to complete a debug effort (i.e., to insure that
tests are stabile), but also insure a greater degree of uniformity among
tests which are associated with like electrical components.
Méthodes et appareil pour les essais de gestion de circuit. Dans un premier mode de réalisation de l'invention, un certain nombre de caractéristiques électriques d'un certain nombre de composants électriques qui existent dans un circuit sont identifiées, et le nombre de composants électriques sont alors groupées en réponse au nombre de caractéristiques électriques. Ensuite, et pour chaque groupe de composants électriques, un essai de circuit qui est commun aux composants électriques du groupe est établi. Quand l'exécution des résultats d'essai dans un échouer faux, l'essai est corrigée, et l'essai corrigé est alors associé à l'un l'autre composant dans son groupe. Beaucoup d'un programmeur corrigent l'effort est donc "proactif" plutôt que "réactif". De préférence, une notation d'histoire d'essai est maintenue pour chaque groupe composant de sorte que des solutions précédemment abandonnées d'essai ne soient pas répétées pendant que des essais sont corrigés. Dans un deuxième mode de réalisation de l'invention, un certain nombre de paramètres d'essai d'un certain nombre d'essais de circuit créés pour un certain nombre de composants électriques qui existent dans un circuit sont identifiés. Des composants de circuit sont alors groupés en réponse aux paramètres d'essai plutôt qu'en réponse aux caractéristiques électriques (bien que certains des paramètres d'essai peuvent réellement être des caractéristiques électriques). Les méthodes sont de préférence appliquées dans le logiciel. Les méthodes et les appareils révélés non seulement raccourcissent le temps requis pour accomplir un effort de correction (c.-à-d., pour assurer que les essais sont fixes), mais assurent également un plus grand degré d'uniformité parmi les essais qui sont associés à comme les composants électriques.