There is disclosed a time-of-flight (TOF) mass spectrometer using microchannel plates (MCPs), that are prevented from saturating even if strong ion pulses hit the microchannel plates. Usually, the saturation would result in a dead time, removing parts of the produced mass spectrum and shortening the lifetimes of the microchannel plates. An intermediate ion detector is mounted at the spatial focusing point of a reflectron TOF-MS spectrometer portion to measure the current values of ion pulses arriving from an external ion source, as well as the elapsed times since start of travel of the ion pulses. Information obtained by the measurement is fed back to the final ion detector. Thus, the gain of the final ion detector is controlled before the ion pulses reach the final ion detector. This prevents saturation of the final ion detector. The invention can also be applied to a TOF mass spectrometer using pulsed ionization and to an electrostatic sector field TOF mass spectrometer.

Αποκαλύπτεται ένα μαζικό φασματόμετρο χρόνος-$$$-ΠΤΉΣΗΣ (TOF) χρησιμοποιώντας microchannel τα πιάτα (MCPs), τα οποία αποτρέπονται από τον κορεσμό ακόμα κι αν οι ισχυροί ιονικοί σφυγμοί χτυπούν τα microchannel πιάτα. Συνήθως, ο κορεσμός θα οδηγούσε σε έναν νεκρό χρόνο, που αφαιρεί τα μέρη του παραχθέντος μαζικού φάσματος και που κονταίνει τη διάρκεια ζωής των microchannel πιάτων. Ένας ενδιάμεσος ιονικός ανιχνευτής τοποθετείται στο χωρικό σημείο μιας μερίδας φασματομέτρων τοφ-κρατών μελών reflectron για να μετρήσει τις τρέχουσες τιμές των ιονικών σφυγμών φθάνοντας από μια εξωτερική ιονική πηγή, καθώς επίσης και τις παρερχόμενες περιόδους από την έναρξη του ταξιδιού των ιονικών σφυγμών. Οι πληροφορίες που λαμβάνονται από τη μέτρηση ανατροφοδοτούνται στον τελικό ιονικό ανιχνευτή. Κατά συνέπεια, το κέρδος του τελικού ιονικού ανιχνευτή ελέγχεται προτού να φθάσουν οι ιονικοί σφυγμοί στον τελικό ιονικό ανιχνευτή. Αυτό αποτρέπει τον κορεσμό του τελικού ιονικού ανιχνευτή. Η εφεύρεση μπορεί επίσης να εφαρμοστεί σε ένα μαζικό TOF φασματόμετρο χρησιμοποιώντας τον παλόμενο ιονισμό και σε ένα ηλεκτροστατικό μαζικό φασματόμετρο τομέων TOF τομέα.