The invention provides methods for generating differential profiles having
been subject to condition A vs. condition B (A vs. B) from data obtained
in separately performed experimental measurements A vs. C and B vs. D.
When C and D are the same, the invention provides methods for
determination of systematic measurement errors or biases between different
measurements carried out in different experimental reactions, i.e.,
cross-experiment errors or biases, using data measured for samples under
the common condition and for removal or reduction of such cross-experiment
errors. The invention further provides methods for generating differential
profiles A vs. B from data obtained in single-channel measurements A and
B.
A invenção fornece métodos gerando os perfis diferenciais que são sujeitos à condição A contra a condição B (A contra B) dos dados obtidos nas medidas experimentais separada executadas A contra C e B contra D. Quando C e D são o mesmo, a invenção fornece métodos para a determinação de erros de medida ou de polarizações sistemáticas entre as medidas diferentes realizadas em reações experimentais diferentes, isto é, erros ou polarizações da cruz-experiência, usando os dados medidos para amostras sob a circunstância comum e para a remoção ou a redução de tais erros da cruz-experiência. A invenção mais adicional fornece métodos gerando os perfis A do diferencial contra B dos dados obtidos nas medidas single-channel A e B.
