A technique to implement functions requiring fewer pins of an integrated
circuit to serially transfer data into the integrated circuit for multiple
logic blocks. By reducing the required pins, this permits downbonding of
the integrated circuit into a package with fewer pins. This technique may
be used to implement test functions in a programmable logic device. Test
data may be serially input using a test pin (310) for two or more columns
(320) of logic blocks. The test data is stored in an A register (330), and
may be later transferred into a B register (335).
Una técnica para poner las funciones en ejecucio'n que requieren pocos pernos de un circuito integrado transferir en serie datos en el circuito integrado para los bloques múltiples de la lógica. Reduciendo los pernos requeridos, esto permite downbonding del circuito integrado en un paquete con pocos pernos. Esta técnica se puede utilizar para poner funciones de la prueba en ejecucio'n en un dispositivo de lógica programable. Los datos de prueba se pueden entrar en serie usando un perno de la prueba (310) para dos o más columnas (320) de los bloques de la lógica. Los datos de prueba se almacenan en un registro de A (330), y se pueden transferir más adelante en un registro de B (335).
