A method and apparatus for assigning decoupling capacitors on an integrated
circuit such that leakage power is minimized is provided. Particularly,
the method and apparatus use an available capacitance area of an
integrated circuit, a capacitance requirement of the integrated circuit,
an available thin-oxide capacitance amount, and an available thick-oxide
capacitance amount to generate an assignment that indicates what
percentage of the available capacitance area should be filled with
thin-oxide capacitors and what percentage of the available capacitance
area should be filled with thick-oxide capacitors in order to meet the
capacitance requirement and minimize leakage power attributable to the
thin-oxide and thick-oxide capacitors.
Une méthode et un appareil pour assigner aux condensateurs de découplage sur un circuit intégré tels que la puissance de fuite est réduite au minimum est fournie. En particulier, la méthode et les appareils emploient un secteur disponible de capacité d'un circuit intégré, une condition de capacité du circuit intégré, une quantité disponible de capacité d'mince-oxyde, et une quantité disponible de capacité d'épais-oxyde de produire d'une tâche qui indique quel pourcentage du secteur disponible de capacité devrait être rempli de condensateurs d'mince-oxyde et quel pourcentage du secteur disponible de capacité devrait être rempli de condensateurs d'épais-oxyde afin de répondre à l'exigence de capacité et réduire au minimum la puissance de fuite attribuable aux condensateurs d'mince-oxyde et d'épais-oxyde.
