Power semiconductor component having a mesa edge termination

   
   

A power semiconductor component having a mesa edge termination is described. The component has a semiconductor body with first and second surfaces. An inner zone of a first conductivity type is disposed in the semiconductor body. A first zone is disposed in the semiconductor body and is connected to the inner zone. An edge area outside of the first zone has areas etched out. A second zone of a second conductivity type is disposed in the semiconductor body and is connected to the inner zone, and a boundary area between the second zone and the inner zone defines a pn junction. A field stop zone is adjacent the first surface in the edge area. The field stop zone is formed of the first conductivity type and is embedded in the semiconductor body, and the field stop zone is connected to the first zone and to the inner zone.

Een component die van de machtshalfgeleider een beƫindiging van de mesarand heeft wordt beschreven. De component heeft eerst een halfgeleiderlichaam met en tweede oppervlakten. Een binnenstreek van een eerste geleidingsvermogentype wordt geschikt in het halfgeleiderlichaam. Een eerste streek wordt geschikt in het halfgeleiderlichaam en met de binnenstreek verbonden. Een randgebied buiten de eerste streek heeft uit geƫtste gebieden. Een tweede streek van een tweede geleidingsvermogentype wordt geschikt in het halfgeleiderlichaam en met de binnenstreek verbonden, en een grensgebied tussen de tweede streek en de binnenstreek bepaalt een pn verbinding. Een streek van het gebiedseinde is adjacent de eerste oppervlakte in het randgebied. De streek van het gebiedseinde wordt gevormd van het eerste geleidingsvermogentype en in het halfgeleiderlichaam gevormd, en de streek van het gebiedseinde wordt verbonden aan de eerste streek en met de binnenstreek.

 
Web www.patentalert.com

< Real time monitoring system for tracking and documenting changes made by programmer's during maintenance or development of computer readable code on a line by line basis and/or by point of focus

< Method and system for testing behavior of procedures

> Lateral semiconductor component in thin-film SOI technology

> Method for reducing rub-off from a toner image using a phase change composition on the non-image side of a substrate

~ 00101