Detecting failed integrated circuit among integrated circuits by (a)
assuming that all integrated circuits under test define under-test set,
and testing each one of the integrated circuits in under-test set, (b)
removing integrated circuits judged to be in failure in step (a) from the
under-test set, (c) measuring spectrum of a current supplied from power
source into each one of integrated circuits in under-test set, (d)
calculating both mean value and standard deviation of spectrum for
under-test set, (e) judging whether an integrated circuit is in failure or
not, based on both the mean value and the standard deviation of the
spectrum, (f) removing integrated circuits having been judged to be in
failure in step (e) from under-test set, and (g) judging under-test set to
be in no failure. Thus, it is possible to find failed integrated circuits
without preparing data of integrated circuit in no failure, as a
reference.
Het ontdekken ontbraken geïntegreerde schakeling onder geïntegreerde schakelingen door (a) te veronderstellen dat alle geïntegreerde schakelingen in onderzoek onder-testreeks bepalen, en het testen van elke één van de geïntegreerde schakelingen in onder-testreeks, (b) verwijderend geïntegreerde schakelingen die worden beoordeeld om in mislukking in stap (a) van de geplaatste onder-test te zijn, (c) metend spectrum van een stroom die uit krachtbron in elke één van geïntegreerde schakelingen in onder-testreeks wordt geleverd, (d) het berekenen zowel gemiddelde waarde als standaardafwijking van spectrum voor onder-testreeks, (e) beoordelend of een geïntegreerde schakeling in mislukking of niet is, gebaseerd op zowel de gemiddelde waarde als de standaardafwijking van het spectrum, (f) verwijderend geïntegreerde schakelingen die hebben beoordeeld om in mislukking binnen te zijn ircuits under test define under-test set, and testing each one of the integrated circuits in under-test set, (b) removing integrated circuits judged to be in failure in step (a) from the under-test set, (c) measuring spectrum of a current supplied from power source into each one of integrated circuits in under-test set, (d) calculating both mean value and standard deviation of spectrum for under-test set, (e) judging whether an integrated circuit is in failure or not, based on both the mean value and the standard deviation of the spectrum, (f) removing integrated circuits having been judged to be in failure in step (e) from under-test set, and (g) beoordelend onder-test die wordt geplaatst om in geen mislukking te zijn. Aldus, is het mogelijk om ontbroken geïntegreerde schakelingen te vinden zonder gegevens van geïntegreerde schakeling in geen mislukking, als verwijzing voor te bereiden.
