A test system includes a semiconductor device having a circuit
configuration including an input buffer circuit, an output buffer circuit,
and an internal logic, a random data generation circuit being provided at
the front stage of the output buffer circuit; a random data generator,
incorporating a random data generation circuit, for applying a random data
to an input of the input buffer circuit from the random data generation
circuit; and a test board on which the semiconductor device and random
data generator is mounted and electrically connected to each other.
Un sistema della prova include un dispositivo a semiconduttore che ha una configurazione di circuito compreso un circuito dell'amplificatore dell'input, un circuito dell'amplificatore dell'uscita e una logica interna, un circuito casuale della generazione di dati che è fornito nella fase anteriore del circuito dell'amplificatore dell'uscita; un generatore casuale di dati, comprendente un circuito casuale della generazione di dati, per l'applicazione dei dati casuali ad un input dell'amplificatore dell'input gira intorno a dal circuito casuale della generazione di dati; e un bordo della prova su cui il dispositivo a semiconduttore ed il generatore casuale di dati è montato l'un l'altro ed elettricamente è collegato.
