Deterministic random Logic Built In Self Test (LBIST) is disclosed that
applies Deterministic Stored Pattern Tests (DSPTs) by using random LBIST.
Basically, the present invention selects the appropriate pseudorandom
pattern for use with a scan cycle that needs care bits. The scan cycle may
be a current or future scan cycle. In particular, the present invention
determines care bits for a particular scan cycle. A pseudorandom pattern
is generated that is then aligned with the particular scan cycle. If the
pseudorandom pattern contains the care bits, with the correct values and
in the proper positions within the pattern, this alignment tests one or
more logic devices.
A lógica aleatória deterministic construída no self-test (LBIST) é divulgada que aplica testes armazenados deterministic do teste padrão (DSPTs) usando LBIST aleatório. Bàsicamente, a invenção atual seleciona o teste padrão pseudorandom apropriado para o uso com um ciclo de varredura que necessite bocados do cuidado. O ciclo de varredura pode ser um ciclo de varredura atual ou futuro. No detalhe, a invenção atual determina bocados do cuidado para um ciclo de varredura particular. Um teste padrão pseudorandom é gerado que seja alinhado então com o ciclo de varredura particular. Se o teste padrão pseudorandom contiver os bocados do cuidado, com os valores corretos e nas posições apropriadas dentro do teste padrão, dos testes deste alinhamento um ou mais dispositivo de lógica.
