A semiconductor device including a port circuit (301) connected to an
internal circuit, external terminals to which the port circuit is
connected and a boundary scanning circuit (180, 18), the boundary scanning
circuit being the one that makes access to the external terminals through
the test access terminals. The test access terminals are also used as
predetermined external terminals among the external terminals. Selection
means (301, 303 to 307) are provided for selectively determining whether
the multi-use terminals (P1 to P5) be connected to the port circuit or to
the boundary scanning circuit, and for selecting, as an initial state, the
state where the multi-use terminals are connected to the boundary scanning
circuit in response to the power-on reset. Since the test access terminals
need not be dedicated, the boundary scanning function can be furnished
while guaranteeing pin compatibility of external terminals. When the
boundary scanning function is not utilized or when the port function of
the multi-use terminals is not used despite of using the boundary scanning
function, complete compatibility is guaranteed for the semiconductor
device which is not furnished with the boundary scanning function.
Прибора на полупроводниках включая port цепь (301) соединился к внутреней схеме, внешним стержням к которым подключена port цепь и цепь скеннирования границы (180, 18), цепи скеннирования границы одним которое делает доступ к внешним заключительнаяам низшая точка стержни доступа испытания. Стержни доступа испытания также использованы как предопределенные внешние стержни среди внешних стержней. Середины выбора (301, 303 до 307) обеспечены для селективно обусловливать мулти-ispol6zu1te ли стержни (P1 к P5) были подключены к port цепи или к цепи скеннирования границы, и для выбирать, как начальня состояние, положение где мулти-ispol6zu1te стержни соединены к цепи скеннирования границы in response to сил-na возврате. В виду того что стержни доступа испытания быть преданы, функцию скеннирования границы можно поставить пока гарантирующ совместимость штыря внешних стержней. Когда функция скеннирования границы не использована или когда port функцией мулти-ispol6zuet стержни не будет используемая злоба использования функции скеннирования границы, вполне совместимость гарантирована для прибора на полупроводниках не обеспечено с функцией скеннирования границы.
