A method, program and system for electrical shorts testing are provided.
The invention comprises setting any chips to be tested to drive 0's on
their drive interfaces, and setting all receive interfaces on the chips to
receive 0's and log any failures. Next a single receive interface is
selected for testing. A hardware shift register is associated with each
drive side interface, wherein each bit of the register is connected to an
off-chip driver on the interface. This hardware shift register for the
selected interface is then set to all 0's, and the first bit of the shift
register is loaded to a 1. The invention then performs a pause count.
After this count, the 1 is shifted to the next bit in the register and
another pause count is performed. This process is repeated until the 1 is
walked completely through the register and all pins on the interface have
been tested. The walking 1 test is then repeated for any additional
interfaces that require testing. Any nets not controlled by the new
Electrical Shorts Test (EST) should ideally be set to drive 1 during this
walking 1 test. In addition, an inverted shorts test can be performed in
which the 1 and 0 values are reversed and a walking 0 test is performed
through the register, thus allowing the interfaces to be tested at both
polarities. Nets not controlled by the new EST should be driven to 0
during the Inverted test.
Um método, um programa e um sistema para testar elétrico dos shorts são fornecidos. A invenção compreende o ajuste de todas as microplaquetas a ser testadas para dirigir 0 em suas relações da movimentação, e ajustando-se todos recebem relações nas microplaquetas para receber 0 e registrar quaisquer falhas. Em seguida um único recebe a relação é selecionado testando. Um registo de deslocamento da ferragem é associado com cada relação do lado da movimentação, wherein cada bocado do registo é conectado a um excitador off-chip na relação. Este registo de deslocamento da ferragem para a relação selecionada é ajustado então a todos os 0, e o primeiro bocado do registo de deslocamento é carregado a um 1. A invenção executa então uma contagem da pausa. Depois que esta contagem, o 1 está deslocada ao bocado seguinte no registo e uma outra contagem da pausa está executada. Este processo está repetido até que o 1 esteja andar completamente através do registo e todos os pinos na relação estiverem testados. O 1 teste andando é repetido então para todas as relações adicionais que requererem testar. Todas as redes não controladas pelo teste elétrico novo dos shorts (EST) devem idealmente ser ajustadas para dirigir 1 durante isto que anda 1 teste. Além, um teste invertido dos shorts pode ser executado em que os valores 1 e 0 são invertidos e uns 0 testes andando são executados através do registo, assim permitindo que as relações sejam testadas em ambas as polaridades. As redes não controladas pelo EST novo devem ser dirigidas a 0 durante o teste invertido.
