An architecture for testing a plurality of circuits on an integrated
circuit is described. The architecture includes a TAP Linking Module
located between test pins on the integrated circuit and 1149.1 Test Access
Ports (TAP) of the plurality of circuits to be tested. The TAP Linking
Module operates in response to 1149.1 scan operations from a tester
connected to the test pins to selectively switch between 1149.1 TAPs to
enable test access between the tester and plurality of circuits. The TAP
Linking Module's 1149.1 TAP switching operation is based upon augmenting
1149.1 instruction patterns to affix an additional bit or bits of
information which is used by the TAP Linking Module for performing the TAP
switching operation.
Μια αρχιτεκτονική για τη δοκιμή μιας πολλαπλότητας των κυκλωμάτων σε ένα ολοκληρωμένο κύκλωμα περιγράφεται. Η αρχιτεκτονική περιλαμβάνει μια ενότητα σύνδεσης TAP που βρίσκεται μεταξύ των καρφιτσών δοκιμής στο ολοκληρωμένο κύκλωμα και 1149.1 λιμένες πρόσβασης δοκιμής (TAP) της πολλαπλότητας των κυκλωμάτων που εξετάζονται. Η ενότητα σύνδεσης TAP λειτουργεί στην απάντηση 1149.1 στις διαδικασίες ανίχνευσης από έναν ελεγκτή που συνδέεται με τις καρφίτσες δοκιμής που μεταστρέφουν επιλεκτικά μεταξύ 1149.1 TAPs για να επιτρέψει την πρόσβαση δοκιμής μεταξύ του ελεγκτή και της πολλαπλότητας των κυκλωμάτων. Η διαδικασία μεταγωγής TAP της ενότητας σύνδεσης TAP 1149.1 είναι βασισμένη στην αύξηση 1149.1 των σχεδίων οδηγίας για να επισυνάψει ένα πρόσθετο κομμάτι ή τα κομμάτια των πληροφοριών που χρησιμοποιούνται από την ενότητα σύνδεσης TAP για την εκτέλεση της διαδικασίας μεταγωγής TAP.
