A method and apparatus for characterizing frequency response of a device
under test (DUT) is disclosed. A repeated base bit pattern is received,
the base bit pattern including a first transition from a 0-bit to a 1-bit.
Then, using bit error rate distribution, multivalue voltage along the
first transition is determined. Finally, the multivalued voltages are
converted into frequency domain using fast Fourier transform. The
apparatus includes a processor and storage with instructions for the
processor to perform these operations. Using the present inventive
technique, the frequency response of the DUT can be determined using an
error performance analyzer such as a BERT.
Een methode en een apparaat om frequentiereactie van een apparaat in onderzoek (DUT) te kenmerken worden onthuld. Een herhaalde basis beet patroon wordt ontvangen, het patroon van het basisbeetje met inbegrip van een eerste overgang van een 0-beetje naar een 1-beetje. Dan, gebruikend het tariefdistributie van de beetjefout, multivalue wordt het voltage langs de eerste overgang bepaald. Tot slot worden de multivalued voltages omgezet in frequentiedomein gebruikend de snelle transformatie van Fourier. Het apparaat omvat een bewerker en een opslag met instructies voor de bewerker om deze handelingen uit te voeren. Gebruikend de huidige vindingrijke techniek, kan de frequentiereactie van DUT worden bepaald gebruikend een analysator van foutenprestaties zoals BERT.
