The present invention provides a method and apparatus for determining when
an actual width of a resistor in an integrated circuit varies from a
design width for that resistor due to process variations. The method and
apparatus may be used to determine an actual amount of the process width
variation. This amount may be used to effectively match resistors in an
integrated circuit that do not have identical design width. The
determination of process width variation in an integrated circuit may be
used to match the bias resistor of a integrated current steering digital
to analog converter to the converter's output resistors.
Die anwesende Erfindung stellt eine Methode und einen Apparat für die Bestimmung zur Verfügung, wann eine tatsächliche Breite eines Widerstandes in einer integrierten Schaltung von einer Designbreite für diesen Widerstand wegen der Prozeßveränderungen schwankt. Die Methode und der Apparat können benutzt werden, um eine tatsächliche Menge der Prozeßbreite Veränderung festzustellen. Diese Menge kann verwendet werden, um Widerstände in einer integrierten Schaltung effektiv zusammenzubringen, die nicht identische Designbreite haben. Die Ermittlung der Prozeßbreite Veränderung einer integrierten Schaltung kann verwendet werden, um den schrägen Widerstand einer integrierten gegenwärtigen Steuerung Digital-Analogumsetzer zusammenzubringen zu den Widerständen Ausgang des Konverters.
