An embodiment of the invention is circuitry 25 that contains a programmable
delay 8 and a pulse generator 16 that send clock signals of a certain
frequency to a device under test 1. The programmable delay 8 increases the
frequency of the clock signal to the device under test 1 until the device
under test fails. The cycle time measurement of the device under test 1 is
the period of maximum frequency at which the device under test 1 operates
properly.
Una encarnación de la invención es el trazado de circuito 25 que contiene un programable retrasa 8 y un generador de pulso 16 que envíen señales del reloj de cierta frecuencia a un dispositivo bajo prueba 1. El programable retrasa 8 aumentos la frecuencia de la señal del reloj al dispositivo bajo prueba 1 hasta que el dispositivo bajo prueba falla. La medida de la duración de ciclo del dispositivo bajo prueba 1 es el período de la frecuencia máxima en el cual el dispositivo bajo prueba 1 funciona correctamente.
