Thin film magnetic memory device with high-accuracy data read structure having a reduced number of circuit elements

   
   

In a data read operation, a selected memory cell and a reference memory cell are connected to complementary first and second data lines via complementary first and second bit lines, respectively. A differential amplifier supplies passing currents of the memory cell and the reference cell to complementary first and second data buses, and amplifies a passing current difference between the first and second data buses occurring corresponding to an electric resistance difference between the memory cell and reference cell to produce a voltage difference of a polarity corresponding to the level of the stored data of the selected memory cell between first and second nodes.

Nei dati l'operazione di lettura, una cellula di memoria selezionata e una cellula di memoria di riferimento sono collegate alle prime e seconde linee di dati complementari via le prime e seconde linee complementari della punta, rispettivamente. Un amplificatore differenziale assicura passare le correnti della cellula di memoria e della cellula di riferimento ai primi e secondi canali omnibus di dati complementari ed amplifica una differenza corrente passante fra primo e secondo corrispondere d'avvenimento dei canali omnibus di dati ad una differenza di resistenza elettrica fra la cellula di memoria e la cellula di riferimento per produrre una differenza di tensione di una polarità che corrisponde al livello dei dati memorizzati della cellula di memoria selezionata in mezzo in primo luogo e dei secondi nodi.

 
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< Multiple level built-in self-test controller and method therefor

< MRAM semiconductor memory configuration with redundant cell arrays

> Redundant memory structure using bad bit pointers

> Method of forming self-aligned, trenchless mangetoresitive random-access memory (MRAM) structure with sidewall containment of MRAM structure

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