A system for locating features in image data is provided. The system
includes a first component system. The first component system compares
first component data, which can be pixel data of a first user-selected
component of the feature, to first test image data, which can be selected
by scanning image data of a device, such as a die cut from a silicon
wafer. The system also includes second component system that is connected
to the first component system, such as through data memory locations of a
processor. The second component system compares second component data to
second test image data if the first component system finds a match between
the first component data and the first test image data. The second test
image data is selected based upon the first test image data, such as by
using a known coordinate relationship between pixels of the first
component data and the second component data.
Обеспечена система для обнаруживать местонахождение характеристики в данных по изображения. Система вклюает первую компонентную систему. Первая компонентная система сравнивает первыми компонентными данными, которые могут быть данные по пиксела первого потребител-vybrannogo компонента характеристики, к первым данным по изображения испытания, которые могут быть выбраны путем просматривать данные по изображения приспособления, such as плашка отрезанная от вафли кремния. Система также вклюает вторую компонентную систему соединена к первой компонентной системе, such as сквозные участка памяти данных обработчика. Вторая компонентная система сравнивает вторые компонентные данные к вторым данным по изображения испытания если первая компонентная система находит спичку между первыми компонентными данными и первыми данными по изображения испытания. Выбраны вторые данные по изображения испытания основали на первых данных по изображения испытания, such as путем использование знанного координированного отношения между пикселами первых компонентных данных и вторых компонентных данных.
