A method of inserting test points in a circuit design includes selecting a
node in the circuit design, determining a driver cell of the node,
selecting a replacement cell for the driver cell and replacing the driver
cell in the circuit design with the replacement cell. The replacement cell
has the same function of the driver cell as well as a test point function.
Additionally, the replacement cell is chosen so as not to break timing.
Une méthode d'insérer des points test de mesure dans une conception de circuit inclut choisir un noeud dans la conception de circuit, déterminer une cellule de conducteur du noeud, choisir une cellule de rechange pour la cellule de conducteur et remplacer la cellule de conducteur dans la conception de circuit avec la cellule de rechange. La cellule de rechange a la même fonction de la cellule de conducteur aussi bien qu'une fonction de point test de mesure. En plus, la cellule de rechange est choisie pour pour ne pas casser la synchronisation.
