The present invention concerns a method and an apparatus for scanning a
specimen (1) with a light beam (2) of a light source (3), preferably in
confocal scanning microscopy, the light beam (2) being deflected with a
beam deflection device (4) and the scanning operation being controlled by
a control device (5). A specimen can be scanned with the greatest possible
timing accuracy in order to trigger a measurement operation, during or
shortly after an external influence. The method and the apparatus
according to the present invention are characterized in that as a function
of at least one definable scan position (10), the control device (5) makes
available at least one signal (11) for influencing the specimen (1) and/or
for triggering a measurement operation.
De onderhavige uitvinding betreft een methode en een apparaat om een specimen (1) met een lichtstraal (2) van een lichtbron (3), bij voorkeur in confocal aftastenmicroscopie, lichtstraal (2) met een apparaat van de straalafbuiging (4) worden doen afwijken en de aftastenverrichting die af te tasten door een controleapparaat (5) worden gecontroleerd. Een specimen kan met de grootste mogelijke timingsnauwkeurigheid om een metingsverrichting teweeg te brengen, tijdens of kort na een externe invloed worden afgetast. De methode en de apparaten volgens de onderhavige uitvinding worden gekenmerkt in dat als functie van minstens één definieerbare aftastenpositie (10), maakt controleapparaat (5) beschikbaar minstens één signaal (11) voor het beïnvloeden van specimen (1) en/of voor het teweegbrengen van een metingsverrichting.
