A driver circuit for use on an integrated circuit tester. In one
embodiment, the driver circuit has a timing circuit and a driver. The
timing circuit has two or more inputs to receive data signals at a first
frequency and at least one output. The timing circuit generates a control
signal having a second higher frequency and outputs signals based on the
data signals and the control signal such that the output signals are
independent of the effects of timing skew and timing jitter of the data
signals. The driver has at least one input coupled to the at least one
output of the timing circuit to receive the output signals and couple the
output signals to a device under test.
Ένα κύκλωμα οδηγών για τη χρήση σε έναν ελεγκτή ολοκληρωμένων κυκλωμάτων. Σε μια ενσωμάτωση, το κύκλωμα οδηγών έχει ένα κύκλωμα συγχρονισμού και έναν οδηγό. Το κύκλωμα συγχρονισμού έχει δύο ή περισσότερες εισαγωγές για να λάβει τα σήματα στοιχείων σε μια πρώτη συχνότητα και τουλάχιστον μια παραγωγή. Το κύκλωμα συγχρονισμού παράγει ένα σήμα ελέγχου που έχουν μια δεύτερη υψηλότερη συχνότητα και τα σήματα αποτελεσμάτων βασισμένες στα σήματα στοιχείων και το σήμα ελέγχου έτσι ώστε τα σήματα παραγωγής είναι ανεξάρτητα από τα αποτελέσματα της λοξής κίνησης συγχρονισμού και του συγχρονισμού jitter των σημάτων στοιχείων. Ο οδηγός εισάγει τουλάχιστον το ένα συνδεμένος με την τουλάχιστον μια παραγωγή του κυκλώματος συγχρονισμού για να λάβει τα σήματα παραγωγής και να συνδέσει τα σήματα παραγωγής με μια συσκευή υπό δοκιμή.
