A multibeam scan apparatus includes a light source having semiconductor
laser diodes and coupling lenses arranged in a main scan direction. The
semiconductor laser diodes are positioned so that light beams emitted by
the semiconductor laser diodes substantially cross each other at a point.
A light beam restricting unit shapes the light beams from the laser diodes
through the coupling lenses so that the light beams have a given spot
size. The light beam restricting unit is positioned close to the
above-mentioned point. A scan lens causes the light beams reflected by a
polygonal mirror to form images on a scanned surface.
Um instrumento da varredura do multibeam inclui uma fonte clara que tem diodos do laser do semicondutor e que acopla as lentes arranjadas em um sentido de varredura principal. Os diodos do laser do semicondutor são posicionados de modo que os feixes luminosos emissores pelos diodos do laser do semicondutor se cruzem substancialmente em um ponto. Uma unidade de restrição do feixe luminoso dá forma aos feixes luminosos dos diodos do laser através das lentes do acoplamento de modo que os feixes luminosos tenham um tamanho dado do ponto. A unidade de restrição do feixe luminoso é posicionada perto do ponto acima mencionado. Uma lente da varredura causa os feixes luminosos refletidos por um espelho polygonal às imagens do formulário em uma superfície feita a varredura.
