An X-ray computed tomography apparatus, comprises an X-ray generator, an
X-ray detector, a controller, and a display. The X-ray generator is
configured to generate a first X-ray in a pre-scan mode and a second X-ray
in an image scan mode. The X-ray detector is configured to detect a first
transmission X-ray exposed through a specimen to a first exposure width of
the X-ray detector along a body axis of the specimen, resulting from the
first X-ray at a first scanning position in the pre-scan mode. The X-ray
detector is further configured to detect a second transmission X-ray
exposed through the specimen to a second exposure width of the X-ray
detector along the body axis of the specimen, resulting from the second
X-ray at a second scanning position in the image scan mode. The first
exposure width is narrower than the second exposure width. The controller
is configured to control the first scanning position and the second
scanning position. The display is configured to display a first image
based on the first transmission X-ray detected by the X-ray detector and a
second image based on the second transmission X-ray detected by the X-ray
detector.
Μια των ακτίνων X υπολογισμένη συσκευή τομογραφίας, περιλαμβάνει μια των ακτίνων X γεννήτρια, έναν των ακτίνων X ανιχνευτή, έναν ελεγκτή, και μια επίδειξη. Η των ακτίνων X γεννήτρια διαμορφώνεται για να παραγάγει μια πρώτη ακτίνα X σε έναν τρόπο προ-ανίχνευσης και μια δεύτερη ακτίνα X σε έναν τρόπο ανίχνευσης εικόνας. Ο των ακτίνων X ανιχνευτής διαμορφώνεται για να ανιχνεύσει μια πρώτη ακτίνα X μετάδοσης που εκτίθεται μέσω ενός δείγματος σε ένα πρώτο πλάτος έκθεσης του των ακτίνων X ανιχνευτή κατά μήκος ενός άξονα σωμάτων του δείγματος, ως αποτέλεσμα της πρώτης ακτίνας X σε μια πρώτη θέση ανίχνευσης στον τρόπο προ-ανίχνευσης. Ο των ακτίνων X ανιχνευτής διαμορφώνεται περαιτέρω για να ανιχνεύσει μια δεύτερη ακτίνα X μετάδοσης που εκτίθεται μέσω του δείγματος σε ένα δεύτερο πλάτος έκθεσης του των ακτίνων X ανιχνευτή κατά μήκος του άξονα σωμάτων του δείγματος, ως αποτέλεσμα της δεύτερης ακτίνας X σε μια δεύτερη θέση ανίχνευσης στον τρόπο ανίχνευσης εικόνας. Το πρώτο πλάτος έκθεσης είναι στενότερο από το δεύτερο πλάτος έκθεσης. Ο ελεγκτής διαμορφώνεται για να ελέγξει την πρώτη θέση ανίχνευσης και τη δεύτερη θέση ανίχνευσης. Η επίδειξη διαμορφώνεται για να επιδείξει μια πρώτη εικόνα βασισμένη στην πρώτη ακτίνα X μετάδοσης που ανιχνεύεται από τον των ακτίνων X ανιχνευτή και μια δεύτερη εικόνα βασισμένη στη δεύτερη ακτίνα X μετάδοσης που ανιχνεύεται από τον των ακτίνων X ανιχνευτή.
