A narrow band ellipsometer is used to monitor and control the formation of
thin layers in an multilayer, thin film interference filter. Optical
interference filters used for DWDM application have a large number of thin
layers deposited on a substrate. The thickness of the layers must be
precisely controlled. An ellipsometer is used to monitor the deposition
process and control the layer formation in situ, on a real time basis.
Un ellipsometer a banda stretta è usato per verificare e controllare la formazione degli strati sottili in un filtro di interferenza della pellicola a più strati e sottile. I filtri ottici di interferenza utilizzati per l'applicazione di DWDM hanno tantissimi strati sottili depositati su un substrato. Lo spessore degli strati deve essere precisamente controllato. Un ellipsometer è usato per verificare il processo di deposito e per controllare la formazione di strato in situ, su una base in tempo reale.
