The present invention relates to a process for examining an object, whereby
properties of the object are detected at different times within a spatial
frequency space formed by spatial frequencies. The process is carried out
in such a way that consecutive images are recorded in overlapping areas of
the spatial frequency space and, additionally, in areas of the spatial
frequency space that differ from each other.
La presente invenzione riguarda un procedimento per esaminare un oggetto, per cui le proprietà dell'oggetto sono rilevate ai tempi differenti all'interno di uno spazio spaziale di frequenza costituito dalle frequenze spaziali. Il processo è effettuato im modo tale che le immagini successive sono registrate nelle zone di sovrapposizione dello spazio spaziale di frequenza e, ulteriormente, nelle zone dello spazio spaziale di frequenza che differiscono da da a vicenda.
