The invention relates to an optical system in the ray path of a confocal
fluorescence microscope, comprising at least one laser light source (1,
2), a device positioned in the illuminating/detecting beam (3, 4, 5) for
separating the exciting light (8) from the fluorescent light (9), an
objective (10) arranged between the device and the object (7), and a
detector (11) positioned downstream of the device situated in the
detecting beam (5). The aim of the invention is to increase the
fluorescence yield of the system while retaining its compact structure. To
this end the separating device comprises a mirror (13) which is
dimensioned and positioned in the illuminating and/or detecting beam (3,
4, 5) in such a way that for the dark-field illumination of the object (7)
it reflects the non-expanded exciting beam arriving from the laser light
source (1, 2) into the objective (10) and permits the transit of the
fluorescence light (9) arriving from the object (7) in the direction of
the detector (11) with full numerical aperture, the fluorescent light beam
being reduced by the mirror (13) cross-section active in the detecting
beam (5).
Η εφεύρεση αφορά ένα οπτικό σύστημα στην πορεία ακτίνων ενός ομοεστιακού μικροσκοπίου φθορισμού, περιλαμβάνοντας τουλάχιστον μια πηγή φωτός λέιζερ (1, 2), μια συσκευή που τοποθετείται στη διαφώτιση/την ανίχνευση της ακτίνας (3 ..4, 5) για το χωρισμό του συναρπαστικού φωτός (8) από το φθορισμού φως (9), ενός στόχου (10) που τακτοποιούνται μεταξύ της συσκευής και του αντικειμένου (7), και ενός ανιχνευτή (11) που τοποθετείται προς τα κάτω της συσκευής που τοποθετείται στην ακτίνα ανίχνευσης (5). Ο στόχος της εφεύρεσης είναι να αυξηθεί η παραγωγή φθορισμού του συστήματος διατηρώντας τη συμπαγή δομή του. Για αυτόν τον σκοπό η χωρίζοντας συσκευή περιλαμβάνει έναν καθρέφτη (13) που διαστασιολογείται και τοποθετείται στην ακτίνα διαφώτισης ή/και ανίχνευσης (3 ..4, 5) κατά τέτοιο τρόπο ώστε για το φωτισμό σκοτεινός-τομέων του αντικειμένου (7) απεικονίζει τη μη-επεκταμένη ακτίνα διέγερσης φθάνοντας από την πηγή φωτός λέιζερ (1, 2) στο στόχο (10) και τις άδειες η διέλευση του φωτός φθορισμού (9) που φθάνει από το αντικείμενο (7) στην κατεύθυνση του ανιχνευτή (11) με το πλήρες αριθμητικό άνοιγμα, η φθορισμού ελαφριά ακτίνα που μειώνεται από τη διατομή καθρεφτών (13) ενεργό στην ακτίνα ανίχνευσης (5).
