An active matrix display device has an inspection circuit for inspecting
the image quality. The inspection circuit includes a plurality of input
terminals for inputting a test signal and a plurality of test transistors
connected respectively to the input terminals. Input test signals which
are to be sent to sub pixel sections from the individual input terminals
are controlled by the associated test transistors to display a desired
test screen. The test transistors are preferably amorphous silicon TFTs.
Ein aktives Matrixsichtanzeigegerät hat einen Kontrolle Stromkreis für das Kontrollieren der Bildqualität. Der Kontrolle Stromkreis schließt eine Mehrzahl der Eingang Anschlüß für das Eingeben eines Testsignals und eine Mehrzahl der Testtransistoren ein, die beziehungsweise an die Eingang Anschlüß angeschlossen werden. Eingabetestsignale, die zum Vorpixel gesendet werden sollen, unterteilt von den einzelnen Eingang Anschlüssn werden gesteuert durch die verbundenen Testtransistoren, um einen gewünschten Testschirm anzuzeigen. Die Testtransistoren sind vorzugsweise formloses Silikon TFTs.
