A method for enhancing the dynamic range of a mass spectrometer by first
passing a sample of ions through the mass spectrometer having a quadrupole
ion filter, whereupon the intensities of the mass spectrum of the sample
are measured. From the mass spectrum, ions within this sample are then
identified for subsequent ejection. As further sampling introduces more
ions into the mass spectrometer, the appropriate rf voltages are applied
to a quadrupole ion filter, thereby selectively ejecting the undesired
ions previously identified. In this manner, the desired ions may be
collected for longer periods of time in an ion trap, thus allowing better
collection and subsequent analysis of the desired ions. The ion trap used
for accumulation may be the same ion trap used for mass analysis, in which
case the mass analysis is performed directly, or it may be an intermediate
trap. In the case where collection is an intermediate trap, the desired
ions are accumulated in the intermediate trap, and then transferred to a
separate mass analyzer. The present invention finds particular utility
where the mass analysis is performed in an ion trap mass spectrometer or a
Fourier transform ion cyclotron resonance mass spectrometer.
Un metodo per l'aumento della gamma dinamica di spettrometro di massa in primo luogo passando un campione degli ioni tramite lo spettrometro di massa che ha un filtro quadrupole dello ione, al che le intensità dello spettro totale del campione sono misurate. Dallo spettro totale, gli ioni all'interno di questo campione allora sono identificati per l'espulsione successiva. Poichè più ulteriormente provare introduce più ioni nello spettrometro di massa, le tensioni adatte di rf si applicano ad un filtro quadrupole dello ione, espellente quindi selettivamente gli ioni indesiderati precedentemente identificati. In questo modo, gli ioni voluti possono essere raccolti per i periodi di tempo più lunghi in una presa dello ione, così permettendo l'accumulazione migliore e l'analisi successiva degli ioni voluti. La presa dello ione usata per accumulazione può essere la stessa presa dello ione usata per analisi totale, nel qual caso l'analisi totale è effettuata direttamente, o può essere una presa intermedia. Nel caso dove l'accumulazione è una presa intermedia, gli ioni voluti sono accumulati nella presa intermedia ed allora sono trasferiti ad un analizzatore totale separato. La presente invenzione trova il programma di utilità particolare dove l'analisi totale è effettuata in uno spettrometro di massa della presa dello ione o in uno spettrometro di massa di risonanza del ciclotrone dello ione di trasformata di fourier.
