A method of simulating the performance of an integrated circuit design is
provided. In the case of extracting n model parameter sets in order to
statistically simulate the performance of the integrated circuit, it is
possible to significantly reduce the time spent on extracting the model
parameters by extracting only one model parameter set using the I-V
characteristic curve created by directly measuring the I-V characteristic
of the device as a target function and extracting the remaining (n-1)
model parameter sets using the main characteristic data (ET data) which
can be easily measured such as the threshold voltage or the saturation
current of the device as the target function. Since the main
characteristic data (ET data) of the device is used as the target
function, it is possible to easily extract the model parameter set when
the characteristics of the device are changed. Therefore, the designer can
simply estimate the influence (sensitivity) that the changes in the
characteristics of the device have on the performance of the integrated
circuit design.
Μια μέθοδος την απόδοση ενός σχεδίου ολοκληρωμένων κυκλωμάτων παρέχεται. Στην περίπτωση της εξαγωγής των πρότυπων συνόλων παραμέτρου ν προκειμένου να μιμηθεί στατιστικά η απόδοση του ολοκληρωμένου κυκλώματος, είναι δυνατό να μειωθεί σημαντικά ο χρόνος που ξοδεύεται στην εξαγωγή των πρότυπων παραμέτρων με την εξαγωγή μόνο ενός πρότυπου συνόλου παραμέτρου που χρησιμοποιεί την IV χαρακτηριστική καμπύλη που δημιουργείται με άμεσα να μετρήσει το IV χαρακτηριστικό της συσκευής ως λειτουργία στόχων και την εξαγωγή των υπόλοιπων (ν-1) πρότυπων συνόλων παραμέτρου που χρησιμοποιούν τα κύρια χαρακτηριστικά στοιχεία (ET τα στοιχεία) που μπορούν να μετρηθούν εύκολα όπως η τάση κατώτατων ορίων ή το ρεύμα κορεσμού της συσκευής ως λειτουργία στόχων. Δεδομένου ότι το κύριο χαρακτηριστικό στοιχείο (ET στοιχεία) της συσκευής χρησιμοποιούνται ως λειτουργία στόχων, είναι δυνατό να εξαχθεί εύκολα η πρότυπη παράμετρος καθορισμένη όταν αλλάζουν τα χαρακτηριστικά της συσκευής. Επομένως, ο σχεδιαστής μπορεί απλά να υπολογίσει την επιρροή (ευαισθησία) που οι αλλαγές στα χαρακτηριστικά της συσκευής έχουν στην απόδοση του σχεδίου ολοκληρωμένων κυκλωμάτων.
