A system allowing testing a plurality of integrated circuits mounted on a
common substrate is described. The testing system includes a failure
processor mounted on the substrate. The substrate has a first signal port
adapted to be coupled to a testing device. The failure processor has a
second signal port coupled to the first signal port and a plurality of
test ports corresponding in number to the number of integrated circuits
mounted on the substrate that are to be tested. Each of the test ports may
be coupled to a respective one of the integrated circuits. The failure
processor is constructed to apply stimulus signals to each of the
integrated circuits and to record response signals generated by each of
the integrated circuits in response to the stimulus signals provided to
the integrated circuits. The failure processor is further constructed to
provide report data based on the response signals and to couple the report
data from the second signal port to the first signal port. As a result,
many integrated circuits under test may share the first signal port
through the failure processor, because the integrated circuits under test
are not providing output data on the first signal port to an external test
data evaluation apparatus. The efficiency with which integrated circuits
may be tested is thereby increased.
Ein System, das gewährt, eine Mehrzahl der integrierten Schaltungen prüfend, die an einem allgemeinen Substrat angebracht werden, wird beschrieben. Das prüfensystem schließt einen Ausfallprozessor mit ein, der am Substrat angebracht wird. Das Substrat hat ein erstes Signaltor, das angepaßt wird, zu einer prüfenvorrichtung verbunden zu werden. Der Ausfallprozessor hat ein zweites Signaltor, das zum ersten Signaltor verbunden werden und eine Mehrzahl der Testtore, die zahlreich der Zahl den integrierten Schaltungen entsprechen, die am Substrat angebracht werden, die geprüft werden sollen. Jedes der Testtore kann bis ein jeweiliges der integrierten Schaltungen verbunden werden. Der Ausfallprozessor wird konstruiert, um Anregungsignale an jeder der integrierten Schaltungen und an den Rekordantwortsignalen anzuwenden, die durch jede der integrierten Schaltungen in Erwiderung auf die Anregungsignale erzeugt werden, die zu den integrierten Schaltungen bereitgestellt werden. Der Ausfallprozessor wird weiter, um die Reportdaten zur Verfügung zu stellen konstruiert, die auf den Antwortsignalen und die Reportdaten vom zweiten Signaltor zum ersten Signaltor zu verbinden basieren. Infolgedessen können viele integrierte Schaltungen unter Test das erste Signaltor durch den Ausfallprozessor teilen, weil die integrierten Schaltungen unter Test Ausgang Daten nicht auf dem ersten Signaltor zu einem externen Testdaten-Auswertung Apparat zur Verfügung stellen. Die Leistungsfähigkeit, mit der integrierte Schaltungen geprüft werden können, wird dadurch erhöht.
