A method of evaluating mathematical model parameters which describe
directions and magnitudes of real and imaginary components of orthogonally
related Kramers-Kroenig consistent dielectric functions or complex
refractive indicies in an optically thick material system which presents
with an optical axis oriented either in-plane or out-of-plane, with
respect to an alignment surface of the optically thick material system.
The method is particularly applicable to investigation of optically thick
material systems which are uniaxial or biaxial using IR range wavelengths.
Метод оценивать математически модельные параметры описывают направления и величины реальных и мнимых компонентов ортогонально родственных функций Kramers-Kroenig последовательных диэлектрических или сложных рефрактивных indicies в оптически толщиной материальной системе настоящие моменты с оптически осью ориентировали или в-ploskost6 или вне-$$$-PLOSKOST6, по отношению к поверхности выравнивания оптически толщиной материальной системы. Метод определенно применим к исследованию оптически толщиными материальными системами будут одноосные или двухосные используя ИКЫЕ длины волны ряда.
