An apparatus and associated method for testing an integrated circuit for
electrical over stress includes a spike source configured to couple to an
input of the integrated circuit, and responsively provide a signal spike
to the input, and a current sensor configured to couple to a power supply.
The power supply is coupled to the integrated circuit to provide power to
the integrated circuit. The current sensor provides a sensor output
related to the current supply to the integrated circuit from the power
supply. The apparatus also includes test circuitry coupled to the sensor
output configured to provide a failure output in response to a
characteristic increase in power supply current sensed by the current
sensor in response to an applied signal spike.
Ein Apparat und eine verbundene Methode für die Prüfung einer integrierten Schaltung auf elektrischen Überschußdruck schließt eine Spitze Quelle ein, die zusammengebaut wird, um zu einem Eingang der integrierten Schaltung zu verbinden und stellt entgegenkommend eine Signalspitze zum Eingang und einen gegenwärtigen Sensor, der zu den Paaren zu einem Spg.Versorgungsteil zusammengebaut wird zur Verfügung. Das Spg.Versorgungsteil wird zur integrierten Schaltung verbunden, um Energie zur integrierten Schaltung zur Verfügung zu stellen. Der gegenwärtige Sensor liefert einen Sensor ausgegeben bezogen auf dem Netzstrom zur integrierten Schaltung vom Spg.Versorgungsteil. Der Apparat schließt auch den Testschaltkreis mit ein, der zum Sensor-Ausgang verbunden wird, der zusammengebaut wird, um einen Ausfallausgang in Erwiderung auf eine charakteristische Zunahme des Spg.Versorgungsteilstromes zur Verfügung zu stellen, der durch den gegenwärtigen Sensor in Erwiderung auf eine angewandte Signalspitze abgefragt wird.
