In accordance with the invention, signal electrode voltages are generated
based on a plurality of scanning pattern sets. A storage circuit stores a
display pattern and scanning patterns belonging to a first scanning
pattern set PA in association with selection data Ds. A data control unit
inverts display data d based on an inversion control signal CTL to
generate converted display data d'. The inversion control signal CTL
becomes active in association with each element at which the first
scanning pattern set differs from a second scanning pattern set. First to
third data registers generate a display pattern based on the converted
display data d'.
De acordo com a invenção, as tensões do elétrodo do sinal são geradas basearam em um plurality de jogos do teste padrão da exploração. Um circuito do armazenamento armazena um teste padrão da exposição e os testes padrões da exploração que pertencem a um PA ajustado do primeiro teste padrão da exploração na associação com dados Ds da seleção. Uma unidade de controle dos dados inverte os dados d da exposição baseados em um sinal de controle CTL do inversion gerar os dados convertidos d da exposição '. O sinal de controle CTL do inversion torna-se ativo na associação com cada elemento em que o primeiro jogo do teste padrão da exploração difere de um segundo jogo do teste padrão da exploração. Primeiramente aos terceiros dados os registos geram um teste padrão da exposição baseado nos dados convertidos d da exposição '.
