Today's technology allows montage images of large areas to be captured,
stored and displayed at the resolution limit of the microscope optics. The
invention reduces the overall time to capture a microscope slide by
reducing the overhead associated with refocusing the optics at each tile
location. Using a macroscopic image of the region to be scanned,
representative focus positions are selected based on a predefined set of
image characteristics. Prior to montage scanning, these focus positions
are placed under the microscope optics and a best-focus position
determined. A surface is fit to the resulting three-dimensional data. The
parameters that define this surface are feed into the scanning control
component to allow high-quality focused images to be acquired throughout
the scanning process, eliminating the required stop, refocus, acquire
image processing steps used in traditional montage imaging systems.
La tecnología de hoy permite que almacenaas y exhibeas las imágenes del montage de áreas grandes sean capturadas, en el límite de la resolución de la óptica del microscopio. La invención reduce la época total de capturar una diapositiva del microscopio reduciendo el asociado de arriba con refocusing la óptica en cada localización del azulejo. Usando una imagen macroscópica de la región que se explorará, se seleccionan las posiciones representativas del foco basaron en un sistema predefinido de características de la imagen. Antes de la exploración del montage, estas posiciones del foco se ponen bajo la óptica del microscopio y posición del mejor-foco determinadas. Una superficie se cabe a los datos tridimensionales que resultan. Los parámetros que definen esta superficie son alimentación en el componente del control de la exploración para permitir que las imágenes enfocadas de alta calidad sean adquiridas a través del proceso de la exploración, eliminando la parada requerida, refocus, adquieren los pasos de proceso de imagen usados en sistemas tradicionales de la proyección de imagen del montage.
