A bit-error rate is tested in a minimal necessary time period. A block of
bits is measured and a cumulative number of bit errors is counted in
parallel with calculation of a posterior cumulative distribution function.
The posterior cumulative distribution function permits a determination to
a desired probability whether or not the bit-error rate is less than a
desired bit-error-rate limit. The measurement of blocks of bits and
accumulation of bit errors relating thereto and calculation of the
posterior cumulative distribution function and making of determinations
based thereon continue in parallel until one of three events is detected.
The three events are: 1) the bit-error rate is less than the desired
bit-error rate limit to the desired probability; 2) the bit-error rate is
greater than or equal to the desired bit-error rate limit to the desired
probability; and 3) a maximal test time has been reached. Upon detection
of any of these three conditions, the test is stopped.
Uma taxa do bocado-erro é testada em um período de tempo necessário mínimo. Um bloco dos bocados é medido e um número cumulativo de erros de bocado é contado na paralela com cálculo de uma função de distribuição cumulativa posterior. A função de distribuição cumulativa posterior permite uma determinação a uma probabilidade desejada se ou não a taxa do bocado-erro é menos do que um limite desejado da bocado-erro-taxa. A medida dos blocos dos bocados e da acumulação dos erros de bocado que relacionam-se a isso e o cálculo da função de distribuição cumulativa posterior e que fazem das determinações baseadas thereon continuam na paralela até que um de três eventos esteja detectado. Os três eventos são: 1) a taxa do bocado-erro é menos do que o limite desejado da taxa do bocado-erro à probabilidade desejada; 2) a taxa do bocado-erro é mais grande do que ou igual ao limite desejado da taxa do bocado-erro à probabilidade desejada; e 3) uma estadia máxima do teste foi alcançada. Em cima da deteção de algumas destas três circunstâncias, o teste é parado.
