Macro cells for a Double Data Rate (DDR) I/O interface are provided. The
macro cells feature built-in self-test (BIST) functionality for testing
the I/O interface at speed, without using external test or evaluation
equipment. Each input or output macro cell is configured to generate test
signals that are submitted to and processed by the I/O interface. The test
signals are then dynamically compared to the signals produced by the
interface in response to the test signals and a result is generated. The
result may comprise an error signal if the test and response signals do
not correspond. An I/O BIST controller may be employed to control the
initiation and operation of the macro cells' self-testing.
Τα μακρο κύτταρα για μια διπλή I/O διεπαφή ποσοστού στοιχείων (ΟΔΓ) παρέχονται. Τα μακρο κύτταρα χαρακτηρίζουν την ενσωματωμένη self-test (BIST) λειτουργία για τη δοκιμή της I/O διεπαφής με την ταχύτητα, χωρίς χρησιμοποίηση του εξωτερικού εξοπλισμού δοκιμής ή αξιολόγησης. Κάθε μακρο κύτταρο εισαγωγής ή παραγωγής διαμορφώνεται για να παραγάγει τα σήματα δοκιμής που υποβάλλονται και υποβάλλονται σε επεξεργασία από την I/O διεπαφή. Τα σήματα δοκιμής έπειτα δυναμικά συγκρίνονται με τα σήματα που παράγονται από τη διεπαφή σε απάντηση στα σήματα δοκιμής και ένα αποτέλεσμα παράγεται. Το αποτέλεσμα μπορεί να περιλάβει ένα σήμα λάθους εάν τα σήματα δοκιμής και απάντησης δεν αντιστοιχούν. Ένας I/O ελεγκτής BIST μπορεί να χρησιμοποιηθεί για να ελέγξει την έναρξη και τη λειτουργία της μόνος-δοκιμής των μακρο κυττάρων.
