Testing circuit for charge detection circuit, LSI, image sensor, and testing method for the charge detection circuit

   
   

A testing circuit 1, provided between an input terminal IN of an LSI 2 and the CSA 20, includes a switch NSW (a third switch), a capacitor CT which is connected in parallel to the switch NSW, and switches TC1 (a first switch) and TC2 (a second switch) which are connected in series across the capacitor CT. With this arrangement, the circuit including the capacitor CT and the CSA 20 can serve as a reverse amplifier circuit and can input a voltage waveform instead of the charges. Therefore, a conventional charge supply circuit is not necessary when the testing of a reading circuit 16 is carried out.

Ein prüfenstromkreis 1, vorausgesetzt zwischen einem Eingang Anschluß INNEN einer LSI 2 und des CSA 20, schließt einen Schalter NSW (ein dritter Schalter), einen Kondensator CT, der in der Ähnlichkeit an den Schalter NSW angeschlossen wird, mit ein und schaltet TC1 (einen ersten Schalter) und TC2 (einen zweiten Schalter) die in der Reihe über dem Kondensator CT geschaltet werden. Mit dieser Anordnung können der Stromkreis einschließlich den Kondensator CT und das CSA 20 als Rückverstärkerstromkreis dienen und können eine Spannung Wellenform anstelle von den Aufladungen eingeben. Folglich ist ein herkömmlicher Aufladung Versorgungsmaterial-Stromkreis nicht notwendig, wenn die Prüfung eines Lesestromkreises 16 durchgeführt wird.

 
Web www.patentalert.com

< Silver halide emulsion

< Methods and compositions relating to CD39-like polypeptides and nucleic acids

> Methods and apparatuses for substrate transporting, positioning, holding, and exposure processing, device manufacturing method and device

> Method and system for high-speed, 3D imaging of optically-invisible radiation

~ 00142