A spectrometer may include a radiant source configured to emit radiation
and an optical amplifier configured to amply the radiation emitted by the
radiant source to produce amplified radiation. A number of optical
elements may be configured to produce an interference pattern from the
amplified radiation. A detector may detect the interference pattern and
generate data from the interference pattern. A processor may be configured
to measure one or more from the data.
Спектрометр может включить излучающий источник установленный для того чтобы испустить радиацию и оптически усилитель установленный к amply радиации испущенной излучающим источником для того чтобы произвести усиленную радиацию. Несколько оптически элементы могут быть установлены для того чтобы произвести картину взаимодействия от усиленной радиации. Детектор может обнаружить картину взаимодействия и произвести данные от картины взаимодействия. Обработчик может быть установлен для того чтобы измерить one or more от данных.
