Tri-layer masking architecture for patterning dual damascene interconnects

   
   

This invention relates to a method of dual damascene integration for manufacture of integrating circuits using three top hard mask layers having alternating etch selectivity characteristics.

Cette invention concerne une méthode d'intégration damascène duelle pour la fabrication d'intégrer des circuits en utilisant trois couches dures supérieures de masque ayant des caractéristiques alternatives de sélectivité gravure à l'eau forte.

 
Web www.patentalert.com

< Method of manufacturing field emission device

< Memory device

> Luminescence stabilization of anodically oxidized porous silicon layers

> Nanocomposite coatings

~ 00142