A system and method for testing an integrated circuit having internal
circuit blocks. Each of the internal circuit blocks may have its own test
circuit block, referred to as a socket access port. The integrated circuit
preferably includes a chip access port (e.g., an IEEE standard 1149.1
compliant test access port) connected to a set of boundary-scan cells, and
connected in a hierarchical fashion to the lower-level test circuit
blocks. Each of the lower-level test control circuit blocks preferably
comprises a socket access port controller, and test operation is
transferred downward and upwards within said hierarchical structure by
communicating from a test control circuit block to the test control
circuit block at the immediately higher or immediately lower level in the
hierarchical structure. Each of the lower-level test control circuit
blocks of the hierarchical test control network may be functionally
identical. Further, each of the lower-level test control circuit blocks
may be structurally identical. An existing boundary scan may be easily
modified for use in the hierarchical structure by adding push instructions
to send it to a lower-level test circuit block, and pop instructions to
return control to the higher level test circuit block.
Ένα σύστημα και μια μέθοδος για ένα ολοκληρωμένο κύκλωμα που έχει τους εσωτερικούς φραγμούς κυκλωμάτων. Κάθε ένας από τους εσωτερικούς φραγμούς κυκλωμάτων μπορεί ο φραγμός κυκλωμάτων δοκιμής του, ένας λιμένας πρόσβασης υποδοχών. Το ολοκληρωμένο κύκλωμα περιλαμβάνει κατά προτίμηση έναν λιμένα πρόσβασης τσιπ (π.χ., ένας ieee τυποποιημένος 1149.1 υποχωρητικός λιμένας πρόσβασης δοκιμής) που συνδέεται με ένα σύνολο κυττάρων όριο-ανίχνευσης, και που συνδέεται σε μια ιεραρχική μόδα με τους φραγμούς κυκλωμάτων χαμηλότερης δοκιμής. Κάθε ένας από τους φραγμούς κυκλωμάτων ελέγχου χαμηλότερης δοκιμής περιλαμβάνει κατά προτίμηση έναν ελεγκτή λιμένων πρόσβασης υποδοχών, και η λειτουργία δοκιμής μεταφέρεται προς τα κάτω και προς τα πάνω μέσα στην εν λόγω ιεραρχική δομή με την επικοινωνία από έναν φραγμό κυκλωμάτων ελέγχου δοκιμής με το φραγμό κυκλωμάτων ελέγχου δοκιμής στο αμέσως πιό υψηλό ή αμέσως χαμηλότερο επίπεδο στην ιεραρχική δομή. Κάθε ένας από τους φραγμούς κυκλωμάτων ελέγχου χαμηλότερης δοκιμής του ιεραρχικού δικτύου ελέγχου δοκιμής μπορεί να είναι λειτουργικά ίδιος. Περαιτέρω, κάθε ένας από τους φραγμούς κυκλωμάτων ελέγχου χαμηλότερης δοκιμής μπορεί να είναι δομικά ίδιος. Μια υπάρχουσα ανίχνευση ορίου μπορεί να τροποποιηθεί εύκολα για τη χρήση στην ιεραρχική δομή με την προσθήκη των οδηγιών ώθησης για να το στείλει σε έναν φραγμό κυκλωμάτων χαμηλότερης δοκιμής, και τις λαϊκές οδηγίες για να επιστρέψει τον έλεγχο στο φραγμό κυκλωμάτων δοκιμής πιό υψηλού επιπέδου.
