Systems and methods for estimating properties of a sample are provided in
which, for some embodiments, each datum of a set of data is modeled using
a parameterized equation. The parameterized equation has multiple
parameters, where each parameter represents a property of the subject.
The parameterized equation is inverted, and the inverted parameterized
equation provides an indication of one or more properties associated with
the subject.
Обеспечены системы и методы для оценивать свойства образца в, для некоторых воплощений, моделировано каждое материал комплекта данных использующ parameterized уровнение. Parameterized уровнение имеет множественные параметры, где каждый параметр представляет свойство вопроса. Parameterized уровнение перевернуто, и перевернутое parameterized уровнение указывает one or more свойств связанных с вопросом.
