An atomic force microscope is described having a cantilever comprising a
base and a probe tip on an end opposite the base; a cantilever drive
device connected to the base; a magnetic material coupled to the probe
tip, such that when an incrementally increasing magnetic field is applied
to the magnetic material an incrementally increasing force will be applied
to the probe tip; a moveable specimen base; and a controller constructed
to obtain a profile height of a specimen at a point based upon a contact
between the probe tip and a specimen, and measure an adhesion force
between the probe tip and the specimen by, under control of a program,
incrementally increasing an amount of a magnetic field until a release
force, sufficient to break the contact, is applied. An imaging method for
atomic force microscopy involving measuring a specimen profile height and
adhesion force at multiple points within an area and concurrently
displaying the profile and adhesion force for each of the points is also
described. A microscope controller is also described and is constructed
to, for a group of points, calculate a specimen height at a point based
upon a cantilever deflection, a cantilever base position and a specimen
piezo position; calculate an adhesion force between a probe tip and a
specimen at the point by causing an incrementally increasing force to be
applied to the probe tip until the probe tip separates from a specimen;
and move the probe tip to a new point in the group.
Se describe un microscopio atómico de la fuerza teniendo un voladizo abarcando una base y una extremidad de la punta de prueba en un extremo enfrente de la base; un dispositivo voladizo de la impulsión conectó con la base; un material magnético juntado a la extremidad de la punta de prueba, tal que cuando un campo magnético incremental de aumento se aplica al material magnético una fuerza incremental de aumento será aplicada a la extremidad de la punta de prueba; una base movible del espécimen; y un regulador construido para obtener una altura del perfil de un espécimen en un punto basado sobre un contacto entre la extremidad de la punta de prueba y un espécimen, y para medir una fuerza de la adherencia entre la extremidad de la punta de prueba y el espécimen por, bajo control de un programa, aumentando incremental una cantidad de un campo magnético hasta una fuerza del lanzamiento, suficiente romper el contacto, se aplica. Un método de la proyección de imagen para la microscopia atómica de la fuerza que implica midiendo una altura del perfil del espécimen y una fuerza de la adherencia en los puntos múltiples dentro de un área y concurrentemente exhibiendo la fuerza del perfil y de la adherencia para cada uno de los puntos también se describe. Un regulador del microscopio también se describe y se construye a, para un grupo de puntos, calcula una altura del espécimen en un punto basado sobre una desviación voladiza, una posición baja voladiza y una posición del piezo del espécimen; calcule una fuerza de la adherencia entre una extremidad de la punta de prueba y un espécimen en el punto haciendo una fuerza incremental de aumento ser aplicado a la extremidad de la punta de prueba hasta que la extremidad de la punta de prueba se separa de un espécimen; y mueva la extremidad de la punta de prueba a un nuevo punto en el grupo.
