Method and system for optimally estimating the location of each of a
sequence of two or more synchronization patterns in a digital signal bit
stream. A first reference location for a sync pattern is determined. A
Boolean product or other product of the sync pattern (of length S) with S
consecutive bit values of the digital stream is formed, for each of a
selected consecutive sequence of candidates for a second reference
location of the sync pattern within a window of selected length. A
candidate reference location that yields the largest (or smallest) product
value within the window is estimated to be a second or "next" reference
location of the sync pattern, if the product value is at least equal to
(or, alternatively, is no greater than) a selected threshold value. The
sync pattern used for testing the digital stream can be varied from one
location to another. The number of bit matches or the number of bit
non-matches can be used to determine an optimal reference location for the
sync pattern.
La méthode et le système pour estimer de façon optimale l'endroit de chacun d'un ordre de deux modèles ou plus de synchronisation dans un signal numérique ont mordu le jet. Un premier endroit de référence pour un modèle de synchro est déterminé. Un produit booléen ou tout autre produit du modèle de synchro (de longueur S) avec des valeurs consécutives de peu de S du jet numérique est formé, pour chacun d'un ordre consécutif choisi des candidats pour un deuxième endroit de référence du modèle de synchro dans une fenêtre de longueur choisie. Un endroit de référence de candidat on estime que qui rapporte la valeur du plus grand (ou plus petit) produit dans la fenêtre est une seconde ou "prochain" endroit de référence du modèle de synchro, si la valeur de produit est au moins égale (ou, alternativement, n'est aucun plus grand que) à une valeur- seuil choisie. Le modèle de synchro utilisé pour examiner le jet numérique peut être changé d'un endroit à l'autre. Le nombre d'allumettes de peu ou le nombre d'non-allumettes de peu peut être employé pour déterminer un endroit optimal de référence pour le modèle de synchro.
