A method and system for testing a semiconductor device and storing device
test results in nonvolatile memory elements on the tested device, in which
the semiconductor device includes logic circuitry which allows test
results to be determined on the device. Test results are stored
temporarily in one or more latch elements on the semiconductor device and
are subsequently stored in nonvolatile memory elements. The invention
eliminates the need for device testing equipment to perform a
determination of test results and thus may simplify the design of test
equipment. In one embodiment of the invention, passing test results are
stored in a mixed code of set and unset nonvolatile memory elements such
that the test results contain information about correct application of
test signals as well as correct functioning of the semiconductor device.
Een methode en een systeem om een halfgeleiderapparaat te testen en de resultaten van de apparatentest in niet-vluchtig geheugenelementen op het geteste apparaat op te slaan, waarin het halfgeleiderapparaat logicaschakelschema omvat dat testresultaten om op het apparaat toelaat worden bepaald. De resultaten van de test worden opgeslagen tijdelijk in één of meerdere klinkelementen op het halfgeleiderapparaat en in niet-vluchtig geheugenelementen later opgeslagen. De uitvinding elimineert de behoefte aan apparaat het testen materiaal om een bepaling van testresultaten uit te voeren en kan zo het ontwerp van testmateriaal vereenvoudigen. In één belichaming die van de uitvinding, worden de testresultaten opgeslagen in een gemengde code van reeks en unset niet-vluchtig geheugenelementen overgaat dusdanig dat de testresultaten informatie over correcte toepassing van testsignalen bevatten evenals het functioneren van het halfgeleiderapparaat verbeteren.
